日本非球面雷射干涉儀

獨創研發之多功能非接觸式雷射干涉儀
非球面・球面・平面工件非接觸式測量
採用複曲折菱鏡光學系統可以穩定測量
被測試物影像可以顯示於畫面
使用半導體雷射非常輕巧簡便
因不受振動影響可安裝於生產線
測量被測試物 : 直徑 100mm

用途 :
非球面 : 測量非球面鏡片之面精度
球面 : 測量各式球面鏡片之面精度
平面 : 測量各式基板表面之面精度商品防竊