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產品內容
1. 粒徑測量範圍:由3nm至75μm,依樣品材料比重而異,高密度及低密度材料均可測量,可使用水或各種有機溶劑。
2. 具備高精確度(±0.25%)及高解析度(2%),測量結果穩定,重覆性高。
3. 動態測量範圍:在固定的離心速度下,CPS Disc Centrifuge微差式離心沉降奈米粒徑分析儀的動態測量範圍可到60倍;若使用分段加速器(Speed Ramping),則動態測量範圍可提升到近1000倍。清潔打蠟
2. 具備高精確度(±0.25%)及高解析度(2%),測量結果穩定,重覆性高。
3. 動態測量範圍:在固定的離心速度下,CPS Disc Centrifuge微差式離心沉降奈米粒徑分析儀的動態測量範圍可到60倍;若使用分段加速器(Speed Ramping),則動態測量範圍可提升到近1000倍。清潔打蠟
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公司資訊
- 統一編號89377464
- 聯絡人陳建中
- 更多磐拓國際股份有限公司資訊
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